4151調(diào)制域分析儀精密時(shí)間間隔測(cè)量廣泛應(yīng)用于衛(wèi)星導(dǎo)航、雷達(dá)、激光測(cè)距、粒子物理實(shí)驗(yàn)、計(jì)量及測(cè)試等域，隨著人們對(duì)測(cè)距精度、粒子質(zhì)量鑒別精度和時(shí)間計(jì)量精度的要求不斷提升，皮秒級(jí)時(shí)間分辨率的測(cè)試應(yīng)用越來(lái)越多。目前外成熟產(chǎn)品的時(shí)間測(cè)量分辨率為2s，標(biāo)準(zhǔn)方差為36s左右，內(nèi)中電科儀器儀表公司推出的4151調(diào)制域分析儀時(shí)間測(cè)量分辨率可達(dá)5s，標(biāo)準(zhǔn)方差為86s左右，綜合性能到達(dá)了先進(jìn)水平，能夠滿足目前大數(shù)情況對(duì)精密時(shí)間的測(cè)試需求。LED的芯片其實(shí)就是個(gè)半導(dǎo)體，有如以下的IV曲線。反向電壓如果加的過(guò)高，LED會(huì)因被擊穿而損壞，所以很多時(shí)候我們需要去測(cè)量反向電壓。若只是單純要測(cè)量芯片的特性，基本上使用電源和萬(wàn)用表即可。主要可測(cè)試的項(xiàng)目包括正向電壓、擊穿電壓、漏電流…測(cè)試LED的整體IV曲線特性幾個(gè)參數(shù)正向電壓:Vf擊穿電壓:Vr漏電流:IL這些項(xiàng)目的測(cè)試其實(shí)并不算困難，但必須要選對(duì)合適的測(cè)量?jī)x器。若是選擇了不適合的測(cè)量?jī)x器，測(cè)試的值誤差則會(huì)非常大。
